网站标志
导航菜单
当前日期时间
当前时间:
购物车
购物车中有 0 件商品 去结算 我的订单
商品搜索
商品搜索:
文章正文
相位剪切干涉无损检测系统
作者:北京华泰科恩科技有限公司管理员    发布于:2018-08-14 11:26:54    文字:【】【】【

相位剪切干涉技术是利用干涉的原理进行检测,作为无损检测法,可以保证在相对很小的外力加载得到检测结果。通过剪切光学元器件将被测物体上的一个物点被成像到CCD相机芯片上的两个像点,被测物体上的两个物点被成像到CCD相机芯片一点,这样两束物光发生干涉。加载时,物被测物体变形,其散射的激光图像也随之变化。将被测物体在加载前的剪切干涉相位图与加载后相位图进行图像处理,可以得到相位差图。系列检测前,先对样件进行试测,根据材料的类型、缺陷的类型及程度决定检测时使用的最佳加载类型(热加载,压力加载,真空加载)。

浏览 (73) | 评论 (0) | 评分(0) | 支持(0) | 反对(0) | 发布人:北京华泰科恩科技有限公司管理员
将本文加入收藏夹
新闻详情
脚注信息
 中国医疗设备网(C) 2015-2020 All Rights Reserved.
 邮箱:huguohuawx@163.com