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SD2000系列晶振测试系统
作者：管石家庄数英仪器有限公司理员    发布于：2018-08-13 17:54:59    文字：【大】【中】【小】
该系统用于高稳晶振老化率测试，可单次测试晶振1～Ｎ只，能高效、准确地完成晶振的频率测试、老化率计算推算、温度测试、电压电流监测等。本系统由频率计、程控电源、温度巡检仪、射频开关、电压电流检测仪、UPS、晶振夹具、工控机、GPIB卡、PC机、打印机、测试机柜等组成。
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